La espectroscopía de fotoelectrones (XPS) se basa en el efecto fotoeléctrico para obtener información de la composición química y de la estructura de enlaces de la superficie de los materiales (XPS general). La información que se obtiene procede de una profundidad máxima de 10 nm. El SAGE 150 de SPECS dispone de un cañón de iones de argon para ir eliminando por sputtering capas superficiales de la muestra y obtener perfiles de composición en profundidad.

Ej: Caracterización de un vidrio dicroico