El área de Técnicas Instrumentales Especializadas dispone de equipos avanzados para la observación y análisis de muestras: dos microscopios electrónicos de barrido con unidad de microanálisis (PHILIPS XL30 CP y FEI Quanta 200F), microscopios ópticos con sistema de análisis de imagen y un equipo SPECS SAGE 150 de espectroscopia de fotoelectrones (XPS). Los microscopios electrónicos de barrido pueden operar a alto vacío, con muestras conductoras, y en el modo ambiental y/o de bajo vacío con muestras aislantes, sin necesidad de recubrimiento conductor. 

Las técnicas de MEB y XPS, utilizadas conjuntamente, proporcionan información complementaria. Con el MEB es posible obtener imágenes superficiales de elevada resolución, mientras que con el XPS se obtiene información sobre la composición química y la estructura de enlaces de dicha superficie. Con la combinación de ambas técnicas va a ser posible asociar microestructuras basadas en capas superpuestas de espesores nanométricos con su composición, determinada tras la realización de perfiles de composición en profundidad XPS. Incluso alteraciones de los materiales visibles a un nivel muy superficial van a poder relacionarse a cambios de composición.

En este sentido, desde el área de Técnicas Instrumentales Especializadas se han abordado estudios sobre caracterización de recubrimientos funcionales de espesores nanométricos depositados sobre todo tipo de sustrato, se han realizado estudios sobre la interacción de la superficie de los materiales con el entorno, fenómenos de difusividad en sólidos, oxidación de superficies metálicas, comportamiento de los materiales frente al ataque por exposición con fluidos… Ej: caracterización de un recubrimiento de TiO₂ obtenido por sol-gel.

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